Raman scattering, microstructural and dielectric studies on Ba1-xCaxBi4Ti4O15 ceramics

Carregant...
Miniatura

Fitxers

1-s2.0-S0254058412006906-main.pdf (1.53 MB) (Accés restringit) Sol·licita una còpia a l'autor
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Cita com:

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Article

Data publicació

Editor

Condicions d'accés

Accés restringit per política de l'editorial

Llicència

Creative Commons
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

Polycrystalline powders of Ba1−xCaxBi4Ti4O15 (where x = 0, 0.25, 0.50, 0.75 and 1) were prepared via the conventional solid-state reaction route. X-ray diffraction (XRD) and Raman scattering techniques have been employed to probe into the structural changes on changing x. XRD analyses confirmed the formation of monophasic bismuth layered structure of all the above compositions with an increase in orthorhombic distortion with increase in x. Raman spectra revealed a redshift in A1g peak and an increase in the B2g/B3g splitting with increasing Ca content. The average grain size was found to increase with increasing x. The temperature of the maximum dielectric constant (Tm) increased linearly with increasing Ca-content whereas the diffuseness of the phase transition was found to decrease with the end member CaBi4Ti4O15 showing a frequency independent sharp phase transition around 1048 K. Ca doping resulted in a decrease in the remnant polarization and an increase in the coercive field. Ba0.75Ca0.25Bi4Ti4O15 ceramics showed an enhanced piezoelectric coefficient d33 of 15 pC N−1 at room temperature. Low values of dielectric losses and tunability of temperature coefficient of dielectric constant (τɛ) in the present solid-solution suggest that these compounds can be of potential use in microwave dielectrics at high temperatures

Descripció

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Kumar, S. [et al.]. Raman scattering, microstructural and dielectric studies on Ba1-xCaxBi4Ti4O15 ceramics. "Materials chemistry and physics", Octubre 2012, vol. 136, núm. 2-3, p. 680-687.

Ajut

Forma part

Dipòsit legal

ISBN

ISSN

0254-0584

Altres identificadors

Referències