Exploring the voltage divider approach for accurate memristor state tuning

Carregant...
Miniatura

Fitxers

Article principal (.pdf, 755.59 KB) (Accés restringit) Sol·licita una còpia a l'autor
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Cita com:

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

Editor

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Condicions d'accés

Accés restringit per política de l'editorial

Llicència

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització de la persona titular dels drets

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

The maximum exploitation of the favorable properties and the analog nature of memristor technology in future nonvolatile resistive memories, requires accurate multilevel programming. In this direction, we explore the voltage divider (VD) approach for highly controllable multi-state SET memristor tuning. We present the theoretical basis of operation, the main advantages and weaknesses. We finally propose an improved closed-loop VD SET scheme to tackle the variability effect and achieve <1% tuning precision, on average 3× faster than another accurate tuning algorithm of the recent literature.

Descripció

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Vourkas, I., Gomez, J., Abusleme, A., Vasileiadis, N., Sirakoulis, G., Rubio, A. Exploring the voltage divider approach for accurate memristor state tuning. A: Latin American Symposium on Circuits and Systems. "2017 IEEE 8th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS 2017): Bariloche, Argentina: 20-23 February 2017". Bariloche: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017, p. 1-4.

Ajut

Forma part

Dipòsit legal

ISBN

978-1-5090-5859-4

ISSN

Altres identificadors

Referències