Adapted importance sampling schemes for the simulation of dependability models of Fault-tolerant systems with deferred repair
Fitxers
Títol de la revista
ISSN de la revista
Títol del volum
Autors
Col·laborador
Tribunal avaluador
Realitzat a/amb
Tipus de document
Data publicació
Editor
Condicions d'accés
item.page.rightslicense
Publicacions relacionades
Datasets relacionats
Projecte CCD
Abstract
This paper targets the simulation of continuous-time Markov chain models of fault-tolerant systems with deferred repair. We start by stating sufficient conditions for a given importance sampling scheme to satisfy the bounded relative error property. Using those sufficient conditions, it is noted that many previously proposed importance sampling techniques such as failure biasing and balanced failure biasing satisfy that property. Then, we adapt the importance sampling schemes failure transition distance biasing and balanced failure transition distance biasing so as to develop new importance sampling schemes which can be implemented with moderate effort and at the same time can be proved to be more efficient for balanced systems than the simpler failure biasing and balanced failure biasing schemes. The increased efficiency for both balanced and unbalanced systems of the new adapted importance sampling schemes is illustrated using examples.
Descripció
Persones/entitats
Document relacionat
item.page.versionof
Citació
Ajut
Forma part
DOI
Dipòsit legal
ISBN
ISSN
Versió de l'editor
Altres identificadors
Referències
Col·leccions
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos