Analysis of body bias and RTN-induced frequency shift of low voltage ring oscillators in FDSOI technology

Carregant...
Miniatura

Fitxers

08464145.pdf (476.53 KB) (Accés restringit) Sol·licita una còpia a l'autor
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

Editor

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Condicions d'accés

Accés restringit per política de l'editorial

item.page.rightslicense

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització de la persona titular dels drets

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Publicacions relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

Electronic circuits powered at ultra low voltages (500 mV and below) are desirable for their low energy and power consumption. However, RTN (Random Telegraph Noise)-induced threshold voltage variations become very significant at such supply voltages. This paper evaluates the impact of RTN on additional jitter in a ring oscillator. Since FDSOI allows a large range of body bias voltages, this work studies how body biasing affects the oscillation frequency but also the jitter effects. The impact of RTN in NMOS and PMOS devices on frequency as well as the levels of supplementary jitter introduced by RTN are evaluated and compared with classical device noise.

Descripció

Persones/entitats

Document relacionat

Versió de

Citació

Barajas, E. [et al.]. Analysis of body bias and RTN-induced frequency shift of low voltage ring oscillators in FDSOI technology. A: International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation. "2018 IEEE 28th International Symposium on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS 2018): 2-4 July 2018, Spain". Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018, p. 82-87.

Ajut

Forma part

Dipòsit legal

ISBN

9781538663653

ISSN

Altres identificadors

Referències