POS2 - A Novel Collaborative SSD Test Case Clustering Method Associating I/O Workload and Function Coverage

Carregant...
Miniatura

Fitxers

PS2-3.pdf (560.8 KB) (Accés restringit)
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Càtedra / Departament / Institut

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

Editor

Part de

Condicions d'accés

Accés restringit per política de l'editorial

item.page.rightslicense

Creative Commons
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 4.0 Internacional

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

In this paper, we propose a TC clustering method that simultaneously considers two data groups: the I/O workload and the function coverage for a higher level of firmware testing. Subsequently, we introduce an application model that predicts the function coverage using only the I/O workload of the TCs from the above method.

Descripció

Document relacionat

Citació

Jeong, G. [et al.]. POS2 - A Novel Collaborative SSD Test Case Clustering Method Associating I/O Workload and Function Coverage. A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022,

Ajut

Forma part

DOI

Dipòsit legal

ISBN

ISSN

Altres identificadors

Referències