Smart Card Fault Injections with High Temperatures

Carregant...
Miniatura
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:

Projectes de recerca

Unitats organitzatives

Número de la revista

Títol de la revista

ISSN de la revista

Títol del volum

Col·laborador

Editor

Tribunal avaluador

Realitzat a/amb

Càtedra / Departament / Institut

Tipus de document

Text en actes de congrés

Data publicació

Editor

Part de

Condicions d'accés

Accés obert

item.page.rightslicense

Creative Commons
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya

Assignatures relacionades

Assignatures relacionades

Datasets relacionats

Datasets relacionats

Projecte CCD

Abstract

Power and clock glitch attacks on smart cards can help an attacker to discover some internal secrets or bypass certain security checks. Also, an attacker can manipulate the temperature and supply voltage of the device, thus making the device glitch more easily. If these manipulations are within the device operating conditions, it becomes harder to distinguish between an extreme condition from an attacker. To demonstrate temperature and power supply effect on fault attacks, we perform several tests on an Atmega 163 microcontroller in different conditions. Our results show that this kind of attacks are still a serious threat to small devices, whilst maintaining the manufacturer recommendations.

Descripció

Document relacionat

Localització

Citació

Ajut

Forma part

DOI

Dipòsit legal

ISBN

ISSN

Versió de l'editor

Altres identificadors

Referències