SP1 - Feature selection techniques for indirect test and statistical calibration of mm-wave integrated circuits
Carregant...
Fitxers
SP1-1-3.pdf (305.22 KB) (Accés restringit)
El pots comprar en digital a:
El pots comprar en paper a:
Títol de la revista
ISSN de la revista
Títol del volum
Col·laborador
Editor
Tribunal avaluador
Realitzat a/amb
Càtedra / Departament / Institut
Tipus de document
Text en actes de congrés
Data publicació
Editor
Part de
Condicions d'accés
Accés restringit per política de l'editorial
item.page.rightslicense
Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Llevat que s'hi indiqui el contrari, els seus continguts estan subjectes a la llicència de Creative Commons: Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 4.0 Internacional
Datasets relacionats
Projecte CCD
Abstract
Descripció
Document relacionat
Citació
Barragan, M.J. [et al.]. SP1 - Feature selection techniques for indirect test and statistical calibration of mm-wave integrated circuits. A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022,