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  • BIST : respuesta a los nuevos desafíos para el test de sistemas en chip (I) 

    Sánchez Ponz, Jorge Luis (Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació de Barcelona, 2001)
    Article
    Open Access
    Las técnicas DIST posibilitan que un circuito integrado realice su propio test por sí mismo. BIST reduce los costes de test y mantenimiento para sistemas en chip gracias a la eliminación de costosos equipos externos ...
  • CDMA: comunicaciones de espectro ensanchado 

    Sánchez Ponz, Jorge Luis (Escola Tècnica Superior d'Enginyers de Telecomunicació de Barcelona, 2000)
    Article
    Open Access
    La tercera generación de comunicaciones móviles se encuentra en plena efervescencia. Son muchas las propuestas que han ido surgiendo a lo largo de los años para dar respuesta a las nuevas demandas del mercado y de los ...