Exploració per autor "Schaf, J."
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AFM as an alternative for Young's modulus determination in ceramic materials at elastic deformation regime
Roa Rovira, Joan Josep; Oncins, Gerard; Dias, F. T.; Vieira, V. N.; Schaf, J.; Segarra, M. (2011-09-08)
Article
Accés restringit per política de l'editorialA novel alternative to the conventional nanoindentation technique for hard materials is presented. An atomic force microscopy probe is used as an indenter, applying loads in the nN range and producing elastic deformations ... -
Análise de Transiçao Resistiva e da irreversibilidade magnètica no superconductor YBACUO texturizado
Nunes, S.E.; Dias, F.T.; Vieira, V. N.; Schaf, J.; Roa Rovira, Joan Josep; Wolff-Fabris, F. (2012)
Text en actes de congrés
Accés obertOs supercondutores de alta temperatura crítica, em especial os granulares, apresentam uma transição resistiva que ocorre em duas etapas: a uma temperatura acima da temperatura crítica de transição Tc0, chamada de ... -
Caracterización mecánica a escala picométrica de YBa1.75Sr0.25Cu3O7-d monocristalino mediante la técnica de autoflujo
Roa Rovira, Joan Josep; Dias, F.T.; Vieira, V.N.; Oncins, Gerard; Díaz, Jordi; Schaf, J.; Capdevila, X.G.; Segarra, M. (Universidad de Cantabria, 2009)
Comunicació de congrés
Accés obertSe implementa un método para indentar superficies rígidas a niveles nanométricos utilizando un microscopio de fuerzas atómicas (Atomic Force Microscopy-AFM), empleando el modo de espectroscopia de fuerzas (Force ...