DSpace DSpace UPC
 English   Castellano   Català  

Treballs academics UPC >
Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona >
Enginyeria de Materials >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2099.1/3209

Arxiu Descripció MidaFormat
34095-1.pdfMemoria12,25 MBAdobe PDFVeure/Obrir
34095-2.pdfAnexo 1/4146,26 kBAdobe PDFVeure/Obrir
34095-3.pdfAnexo 2/4417,81 kBAdobe PDFVeure/Obrir
34095-4.pdfAnexo 3/4985,9 kBAdobe PDFVeure/Obrir
34095-5.pdfAnexo 4/49,13 MBAdobe PDFVeure/Obrir

Títol: Aplicaciones de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) cómo método de caracterización de polímeros
Autor: Díaz Marcos, Jordi
Tutor/director/avaluador: Segarra Rubí, Mercè
Universitat: Universitat Politècnica de Catalunya
Càtedra /Departament: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciència dels Materials i Enginyeria Metal•lúrgica
Matèries: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials::Assaigs estructurals
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials
Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Materials plàstics i polímers
Data: 2004
Tipus de document: Master thesis (pre-Bologna period)
Descripció: Este proyecto pretende ser una herramienta útil para el ingeniero que quiera aplicar la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) como técnica de caracterización de Materiales poliméricos. En primer lugar se describen algunas técnicas de caracterización superficial competitivas con el AFM, es decir el SEM y el TEM (Microscopía Electrónica) para describir seguidamente el AFM. El AFM, es una técnica que poco a poco va ganándose adeptos como herramienta útil de caracterización a nivel de topografía, dureza, adhesión, medidas in situ, etc. En el capítulo 3 se describirá la técnica, los diferentes modos y posibilidades que presenta y su uso más concreto dentro del campo de los polímeros (por ejemplo, se describe como preparar una muestra polimérica para su posterior caracterización por AFM). Para concluir este capítulo se introducirá el tema de los Biopolímeros y como el AFM puede ser una herramienta útil para caracterizarlos. Por último, en el capítulo 4 se describen algunos ejemplos para que el Ingeniero pueda ver casos prácticos donde el AFM puede ser una herramienta importante de caracterización y que además, permite solucionar problemas que aparecen en otras técnicas más comúnmente utilizadas, como por ejemplo, la microscopía óptica y electrónica. Por lo tanto, esta técnica puede ser una herramienta útil en caracterización de polímeros de interés tecnológico como el poliéster PEN (substrato en células fotovoltaicas), poliéster del ácido málico (biopolímero) o polímeros clásicos como el polipropileno (embalaje) o en estudios de adhesión matriz-polímero (Si-PEN), entre otros.
URI: http://hdl.handle.net/2099.1/3209
Apareix a les col·leccions:Enginyeria de Materials
Comparteix:



SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius