Effect of high frequency substrate noise on LC-VCOs
Visualitza/Obre
10.1109/MWSCAS.2010.5548582
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/9958
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2010
EditorIEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
This paper presents an experimental analysis of the performance degradation of an LC-Voltage Controlled Oscillator (LC-VCO) produced by high frequency noise present in the substrate. The spurs observed are shown to be caused by a frequency pulling mechanism. Based on the theory of injection
locked oscillators, a new analytical model to predict the behavior of the LC-VCO under the effect of high frequency substrate
noise is presented. The analytical model, which is successfully compared with experimental measurements on a 7 GHz LCVCO,
provides rapid intuition on the relation between spurs and circuit parameters.
CitacióMolina, M. [et al.]. Effect of high frequency substrate noise on LC-VCOs. A: IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems. "2010 53rd IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems". Seattle: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, p. 157-160.
ISBN978-1-4244-7771-5
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Paper Marc Midwest.pdf | Main paper | 574,4Kb | Visualitza/Obre |