Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50 /spl Theta/ noise figure measurements only
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/98027
Tipus de documentArticle
Data publicació1998-11
EditorInstitution of Electrical Engineers
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
A method for measuring the four noise parameters of a transistor in the microwave range using a configuration based on a conventional spectrum analyser is presented. In contrast to previous methods, it requires wideband 50 /spl Theta/ noise-figure measurements only. The method features an accuracy similar to that of noise figure meters at a much higher measurement speed and lower cost.
CitacióLazaro, A., Pradell, L. Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50 /spl Theta/ noise figure measurements only. "Electronics Letters", Novembre 1998, vol. 34, núm. 24, p. 2353-2354.
ISSN0013-5194
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org.recursos.biblioteca.upc.edu/document/743045/
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Extraction of noise parameters of transistor.pdf | 313,6Kb | Visualitza/Obre |