Adaptive analysis of yield line patterns in plates with the Arbitrary Lagrangian-Eulerian method
Visualitza/Obre
10.1016/S0045-7949(98)00188-6
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/8513
Tipus de documentArticle
Data publicació1999-02
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Plasticity models provide suitable tools to describe the so-called yield line pattern that occurs with the failure of plates. However, in a Lagrangian description a huge number of finite elements are needed for accurate solutions. Accuracy can be combined with low computer costs by means of the arbitrary Lagrangian–Eulerian (ALE) method. With the ALE method, the finite element mesh is automatically refined in the yield lines. A new remesh indicator is proposed that captures newly appearing yield lines as well as already formed yield lines. Numerical examples show the effectiveness of this approach.
CitacióAskes, H.; Rodríguez, A.; Huerta, A. Adaptive analysis of yield line patterns in plates with the Arbitrary Lagrangian-Eulerian method. "Computers and structures", Febrer 1999, vol. 70, núm. 3, p. 257-271.
ISSN0045-7949
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
1999-CandS-ARH-blanc.pdf | 628,5Kb | Visualitza/Obre |