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dc.contributor.authorCardador Maza, David
dc.contributor.authorVega Bru, Didac
dc.contributor.authorRodríguez Martínez, Ángel
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.date.accessioned2016-03-16T13:31:28Z
dc.date.available2016-03-16T13:31:28Z
dc.date.issued2015
dc.identifier.citationCardador, D., Vega, D., Rodriguez, A. Variación de la frecuencia de trabajo en un cristal fotónico basado en silicio macroporoso al variar la longitud del defecto. A: Workshop en Microsistemas y Nanotecnología y Asamblea Anual de IBERNAM. "IBERNAM 2015- Encuentro Anual IberNAM: “Empresas de Base Tecnológica en Micro-Nanosistemas: experiencias y oportunidades de colaboración” Zaragoza, 10-11 Diciembre 2015 Salón de Actos. Edificio I+D+i. Campus Río Ebro. Universidad de Zaragoza.". Zaragoza: 2015, p. 1-2.
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/84495
dc.description.abstractEn este trabajo se ha estudiado la relación existente entre la frecuencia de trabajo de un cristal fotónico con defecto y el tamaño de dicho defecto. Las simulaciones indican una dependencia lineal entre ambas, a la vez que se mantiene el factor de calidad de los picos a lo largo de la banda prohibida
dc.format.extent2 p.
dc.language.isospa
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Telecomunicació òptica::Fotònica
dc.subject.lcshPhotonics
dc.subject.otherCristal fotónico
dc.subject.otherSilicio macroporoso
dc.subject.otherDefecto
dc.subject.otherBanda prohibida
dc.titleVariación de la frecuencia de trabajo en un cristal fotónico basado en silicio macroporoso al variar la longitud del defecto
dc.typeConference report
dc.subject.lemacFotònica
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. MNT - Grup de Recerca en Micro i Nanotecnologies
dc.description.peerreviewedPeer Reviewed
dc.rights.accessOpen Access
local.identifier.drac17396967
dc.description.versionPostprint (published version)
local.citation.authorCardador, D.; Vega, D.; Rodriguez, A.
local.citation.contributorWorkshop en Microsistemas y Nanotecnología y Asamblea Anual de IBERNAM
local.citation.pubplaceZaragoza
local.citation.publicationNameIBERNAM 2015- Encuentro Anual IberNAM: “Empresas de Base Tecnológica en Micro-Nanosistemas: experiencias y oportunidades de colaboración” Zaragoza, 10-11 Diciembre 2015 Salón de Actos. Edificio I+D+i. Campus Río Ebro. Universidad de Zaragoza.
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