Análisis de errores en sistemas de medida de ruido. Sistema de medida de parámetros de ruido de transistores de microondas
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació1988
EditorUniversidad Politécnica de Madrid (UPM)
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióPradell, L., Comeron, A., Ramírez, A., Martorell, J. Análisis de errores en sistemas de medida de ruido. Sistema de medida de parámetros de ruido de transistores de microondas. A: Reunión de la Comisión B (campos y ondas). "URSI 1988: VII Reunión de la Comisión B (campos y ondas): actas: Cuenca, 26-28 septiembre, 1988". Pamplona, Navarra: Universidad Politécnica de Madrid (UPM), 1988, p. 356-361.
Col·leccions
- RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones - Ponències/Comunicacions de congressos [151]
- RSLAB - Remote Sensing Research Group - Ponències/Comunicacions de congressos [651]
- Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions - Ponències/Comunicacions de congressos [3.316]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Análisis de err ... sistores de microondas.pdf | 371,8Kb | Visualitza/Obre |