Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributorCanal Corretger, Ramon
dc.contributorAbella Ferrer, Jaume
dc.contributor.authorRiera Villanueva, Marc
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors
dc.date.accessioned2015-11-13T16:53:03Z
dc.date.available2015-11-13T16:53:03Z
dc.date.issued2015-07
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/79266
dc.description.abstractLa fiabilitat s'ha convertit en un aspecte important del disseny de sistemes informàtics a causa de la miniaturització de la tecnologia. En aquest projecte s'analitza la fiabilitat de les tecnologies actuals i futures simulant els components bàsics d'un processador.
dc.language.isoeng
dc.publisherUniversitat Politècnica de Catalunya
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Informàtica
dc.subject.lcshIntegrated circuits
dc.subject.otherFiabilitat
dc.subject.otherFallades degudes als Neutrons
dc.subject.otherSoft Error Rate
dc.subject.otherCaracterització de la Tecnologia
dc.subject.otherReliability
dc.subject.otherNeutron Radiation Failures
dc.subject.otherTechnology Characterization
dc.titleAnalysis of SoftError Rates for future technologies
dc.typeMaster thesis
dc.subject.lemacCircuits integrats
dc.identifier.slug109532
dc.rights.accessOpen Access
dc.date.updated2015-07-14T04:00:16Z
dc.audience.educationlevelMàster
dc.audience.mediatorFacultat d'Informàtica de Barcelona
dc.audience.degreeMÀSTER UNIVERSITARI EN INNOVACIÓ I RECERCA EN INFORMÀTICA (Pla 2012)


Fitxers d'aquest items

Thumbnail

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple