Mostra el registre d'ítem simple
Analysis of SoftError Rates for future technologies
dc.contributor | Canal Corretger, Ramon |
dc.contributor | Abella Ferrer, Jaume |
dc.contributor.author | Riera Villanueva, Marc |
dc.contributor.other | Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors |
dc.date.accessioned | 2015-11-13T16:53:03Z |
dc.date.available | 2015-11-13T16:53:03Z |
dc.date.issued | 2015-07 |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2117/79266 |
dc.description.abstract | La fiabilitat s'ha convertit en un aspecte important del disseny de sistemes informàtics a causa de la miniaturització de la tecnologia. En aquest projecte s'analitza la fiabilitat de les tecnologies actuals i futures simulant els components bàsics d'un processador. |
dc.language.iso | eng |
dc.publisher | Universitat Politècnica de Catalunya |
dc.subject | Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica |
dc.subject.lcsh | Integrated circuits |
dc.subject.other | Fiabilitat |
dc.subject.other | Fallades degudes als Neutrons |
dc.subject.other | Soft Error Rate |
dc.subject.other | Caracterització de la Tecnologia |
dc.subject.other | Reliability |
dc.subject.other | Neutron Radiation Failures |
dc.subject.other | Technology Characterization |
dc.title | Analysis of SoftError Rates for future technologies |
dc.type | Master thesis |
dc.subject.lemac | Circuits integrats |
dc.identifier.slug | 109532 |
dc.rights.access | Open Access |
dc.date.updated | 2015-07-14T04:00:16Z |
dc.audience.educationlevel | Màster |
dc.audience.mediator | Facultat d'Informàtica de Barcelona |
dc.audience.degree | MÀSTER UNIVERSITARI EN INNOVACIÓ I RECERCA EN INFORMÀTICA (Pla 2012) |