Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/7375
Tipus de documentAltres
Data publicació2009-11
EditorIEEE Computer Society Publications
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
This poster shows how to efficiently observe high-frequency figures of merit in RF circuits by measuring DC temperature with CMOS-compatible built-in sensors.
CitacióAldrete, H. [et al.]. Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors. A: 2009 International Test Conference (ITC). "2009 International Test Conference". Austin, Texas: IEEE Computer Society Publications, 2009, p. 1-4.
ISBN978-1-4244-4867-8
Versió de l'editorhttp://www.itctestweek.org/
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Non-invasive RF built-in testing.pdf | 371,7Kb | Visualitza/Obre |