Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50^ noise figure measurements only.
Visualitza/Obre
Tipus de documentArticle
Data publicació1998-11-26
EditorIEE
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
A method for measuring the four noise parameters of a transistor in the microwave range using a configuration based on a conventional spectrum analyser is presented. In contrast to previous methods, it requires wideband 50 Θ noise-figure measurements only. The method features an accuracy similar to that of noise figure meters at a much higher measurement speed and lower cost.
CitacióLazaro, A.; Pradell, L. Extraction of noise parameters of transistor using a spectrum analyser and 50 Θ noise figure measurements only. Electronics Letters, 1998, 34 (24): 2353-2354. ISSN:0013-5194
ISSN0013-5194
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
extraction of noise parameters.pdf | 313,6Kb | Visualitza/Obre |