A low area probing detector for security IC's
Visualitza/Obre
Trudevice14_paper.pdf (312,3Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/24973
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2014
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
In this paper, a low cost, Low Area Probing Detector (LAPD)
is presented. Probing or microprobing is an attack technique against integrated circuits implementing security functions, such as OTP tokens
or smartcards. It allows intercepting secrets from on-chip wires as well
as injecting faults for other attacks. Microprobing is invasive as classi ed
by Skorobogatov in 2005 and requires opening the microchip package as well as removing the passivation layer. While it may sound complicated and expensive, Maier and Nohl showed in 2012 that microprobing is feasible for low-budget adversaries. However, existing protection techniques against microprobing, such as active shields, redundancy of core components, or analog detection circuits containing large capacitors, are still expensive.
The LAPD provides low-cost protection against microprobing. It measures minimal timing di erences between on-chip wires caused by the capacitive load of microprobes. As a novelty, it is merely based on digital components and does not require analog circuitry, which reduces
the required area and process steps compared to previous approaches.
Simulations show that the LAPD can detect up-to-date probes with capacitances as low as 10 fF.
CitacióWeiner, M.; Manich, S.; Sigl, G. A low area probing detector for security IC's. A: Workshop on Trustworthy Manufacturing and Utilization of Secure Devices. "Workshop on Trustworthy Manufacturing and Utilization of Secure Devices, TRUDEVICE 2014". Paderborn: 2014, p. 1-6.
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.713]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Trudevice14_paper.pdf | 312,3Kb | Accés restringit |