Analysis of sparse numerical methods for dependability evaluation
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/23545
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació1987
EditorACTA Press
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Homogeneous, continuous-time Markov chains are an usual mathematical tool for dependability evaluation of computer systems. Complex systems rise the large state space problem, thus making mandatory the use of efficient numerical methods. This paper analyzes state of the art sparse methods in the context of the development of an enhanced version of an existing tool. We first consider point SOR for the evaluation of the stationary probability and mean time before absorption vectors. By dynamic adjustment of the relaxation parameter a very high convergence rate is attained in many cases. The convergence rate is however rather poor when the Markov chain contains highly recurrent subsets. In order to improve the method we propose the integration of a novel, exact, one-step aggregation technique with block SOR. For the evaluation of the transient regime, two methods are compared: randomization and implicit integration. Scenarios in which one of them is clearly preferable are described.
CitacióCarrasco, J. Analysis of sparse numerical methods for dependability evaluation. A: IASTED International Symposium Identification, Modeling and Simulation. "Identification, modelling and simulation: Paris, France, June 22-24, 1987". ACTA Press, 1987, p. 437-441.
ISBN0889861307
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.715]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
IAESTED_87.pdf | 1,136Mb | Visualitza/Obre |