Bounding steady-state availability models with phase type repair distributions
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/23386
Tipus de documentComunicació de congrés
Data publicació1998
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
We propose a method to obtain bounds for the steady-state availability using Markov models in which only a small portion of the state space is generated. The method is applicable to models with phase type repair distributions and involves the solution of only 4 linear systems of the size of the generated state space, independently on the number of “return” states. A numerical example is presented to illustrate the method.
CitacióCarrasco, J. Bounding steady-state availability models with phase type repair distributions. A: IEEE International Computer Performance and Dependability Symposium. "IEEE International computer performance and dependability symposium, IPDS'98, September 7-9, 1998, Durham, North Carolina: proceedings". Durham, North Carolina: 1998, p. 259-268.
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.714]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
IEEE_IPDS_98.pdf | 160,9Kb | Visualitza/Obre |