Enhanced sensitivity and contrast with bimodal atomic force microscopy with small and ultra-small amplitudes in ambient conditions
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/21802
Tipus de documentArticle
Data publicació2013-12-02
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Here, we introduce bimodal atomic force microscopy operated with sub-nm and ultra-small, i.e., sub-angstrom, first and second mode amplitudes in ambient conditions. We show how the tip can be made to oscillate in the proximity of the surface and in perpetual contact with the adsorbed water layers while the second mode amplitude and phase provide enhanced contrast and sensitivity.
Nonlinear and nonmonotonic behavior of the experimental observables is discussed theoretically with a view to high resolution, enhanced contrast, and minimally invasive mapping. Fractions of meV of energy dissipation are shown to provide contrast above the noise level.
CitacióSantos, S. Enhanced sensitivity and contrast with bimodal atomic force microscopy with small and ultra-small amplitudes in ambient conditions. "Applied physics letters", 02 Desembre 2013, vol. 103, núm. 23, p. 231603-1-231603-5.
ISSN0003-6951
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
1.4840075.pdf | Article | 663,5Kb | Visualitza/Obre |