Characterization of conducted emission at high frequency under different temperature
Visualitza/Obre
06735190.pdf (1,733Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
10.1109/EMCCompo.2013.6735190
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/21690
Tipus de documentComunicació de congrés
Data publicació2013
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Download Citation
Email
Print
Request Permissions
Save to Project
In this paper, the characterization of the EMC conducted emissions of integrated circuits under different temperature stress condition, up to 3 GHz is presented. The impact of high temperature has been measured on the input impedance of propagation paths of the electromagnetic conducted emissions, as well as on the electromagnetic noise of a clock generator.
CitacióBerbel, N.; Fernandez, R.; Gil, I. Characterization of conducted emission at high frequency under different temperature. A: International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits. "Proceedings of EMC COMPO 2013". Nara: 2013.
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
06735190.pdf | 1,733Mb | Accés restringit |