A Highly time sensitive XOR gate for probe attempt detectors
Visualitza/Obre
06589211.pdf (1,035Mb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/20153
Tipus de documentArticle
Data publicació2013-09-05
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Probe attempt detectors are sensors designed to protect buses of secure chips against the physical contact of probes.
The operation principle of these detectors relies on the comparison of the delay propagation times between lines. CMOS XOR gates are very well suited for this comparison since they are small, fast, and compatible with the technology used in secure chips. However, the lack of activity while comparing matched lines and the limited
reaction time pose a risk for tampering and decrease the sensitivity of the sensor, respectively. In this brief, a modification of a CMOS XOR gate is presented, which solves both the aforementioned problems.
CitacióManich, S.; Strasser, M. A Highly time sensitive XOR gate for probe attempt detectors. "IEEE transactions on circuits and systems II: express briefs", 05 Setembre 2013.
ISSN1549-7747
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6589211
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
06589211.pdf | 1,035Mb | Accés restringit |