Efficient transient simulation of failure/repair markovian models
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/20061
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació1991
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
Simulation methods have recently been developed for the solution of the extremely large Markovian dependability models which result from complex fault-tolerant computer systems. This paper presents efficient simulation methods for the estimation of transient reliability/availability metrics for repairable fault-tolerant computer systems which combine estimator decomposition
techniques with an efficient importance sampling technique recently developed. Comparison with simulation methods previously proposed for the same type of metrics and models shows that the methods proposed here are orders of magnitude faster.
CitacióCarrasco, J. Efficient transient simulation of failure/repair markovian models. A: 10th IEEE Int. Symp. on Reliable Distributed Systems. "Proc. 10th IEEE Int. Symp. on Reliable Distributed Systems". 1991, p. 152-161.
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.715]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
IEEE_RDS_91.pdf | 899,2Kb | Visualitza/Obre |