Fault-tolerance capacity of the multilevel active clamped topology
Visualitza/Obre
Article principal (571,2Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/19159
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2011
EditorIEEE
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
Thanks to the inherent redundancy to generate the different output voltage levels, the multilevel active clamped
(MAC) topology presents an important fault-tolerance ability which makes it interesting for several applications. This paper
presents an analysis of the fault-tolerance capacity of the MAC converter. Both open-circuit and short-circuit faults are
considered and the analysis is carried out under single-device and two-simultaneous-device faults. Switching strategies to
overcome the limitations caused by faults are proposed. Experimental tests with a four-level MAC prototype are presented to validate the analysis.
CitacióNicolas, J. [et al.]. Fault-tolerance capacity of the multilevel active clamped topology. A: IEEE Energy Conversion Congress and Exposition. "IEEE ECCE 2011 proceedings: IEEE Energy Conversion Congress and Exposition: September 17-22, 2011, Hyatt Regency Phoenix, Arizona". Phoenix, AR: IEEE, 2011, p. 3411-3418.
ISBN978-1-4577-0541-0/11
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=6064230&tag=1
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Fault-tolerance paper.pdf | Article principal | 571,2Kb | Accés restringit |