Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributor.authorSantos Hernández, Sergio
dc.contributor.authorGadelrab,, K.
dc.contributor.authorBarcons Xixons, Víctor
dc.contributor.authorStefancich, M.
dc.contributor.authorChiesa, Matteo
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics
dc.date.accessioned2012-10-16T08:18:07Z
dc.date.created2012-07-20
dc.date.issued2012-07-20
dc.identifier.citationSantos, S. [et al.]. Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy. "New journal of physics", 20 Juliol 2012, vol. 14, p. 1-12.
dc.identifier.issn1367-2630
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/16725
dc.description.abstractA formalism to extract and quantify unknown quantities such as sample deformation, the viscosity of the sample and surface energy hysteresis in amplitude modulation atomic force microscopy is presented. Recovering the unknowns only requires the cantilever to be accurately calibrated and the dissipative processes occurring during sample deformation to be well modeled. The theory is validated by comparison with numerical simulations and shown to be able to provide, in principle, values of sample deformation with picometer resolution.
dc.format.extent12 p.
dc.language.isoeng
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Física
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
dc.subject.lcshAtomic force microscopy
dc.subject.otherDissipative process
dc.subject.otherEnergy hysteresis
dc.subject.otherPicometer resolution
dc.subject.otherSample deformation
dc.subject.otherUnknown quantity
dc.titleQuantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy
dc.typeArticle
dc.subject.lemacMicroscòpia de força atòmica
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. SEPIC - Sistemes Electrònics de Potència i de Control
dc.identifier.doi10.1088/1367-2630/14/7/073044
dc.relation.publisherversionhttp://iopscience.iop.org/1367-2630/14/7/073044
dc.rights.accessRestricted access - publisher's policy
drac.iddocument10911979
dc.description.versionPostprint (published version)
dc.date.lift10000-01-01
upcommons.citation.authorSantos, S.; Gadelrab,, K.; Barcons, V.; Stefancich, M.; Chiesa, M.
upcommons.citation.publishedtrue
upcommons.citation.publicationNameNew journal of physics
upcommons.citation.volume14
upcommons.citation.startingPage1
upcommons.citation.endingPage12
 Find Full text

Fitxers d'aquest items

Imatge en miniatura

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets