Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy
Visualitza/Obre
quantification_dissipation.pdf (728,1Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
10.1088/1367-2630/14/7/073044
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/16725
Tipus de documentArticle
Data publicació2012-07-20
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
A formalism to extract and quantify unknown quantities such as
sample deformation, the viscosity of the sample and surface energy hysteresis
in amplitude modulation atomic force microscopy is presented. Recovering
the unknowns only requires the cantilever to be accurately calibrated and the
dissipative processes occurring during sample deformation to be well modeled.
The theory is validated by comparison with numerical simulations and shown
to be able to provide, in principle, values of sample deformation with picometer
resolution.
CitacióSantos, S. [et al.]. Quantification of dissipation and deformation in ambient atomic force microscopy. "New journal of physics", 20 Juliol 2012, vol. 14, p. 1-12.
ISSN1367-2630
Versió de l'editorhttp://iopscience.iop.org/1367-2630/14/7/073044
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
quantification_dissipation.pdf | 728,1Kb | Accés restringit |