On line monitoring of RF power amplifiers with embedded temperature sensors
Visualitza/Obre
Altet_ IOLTS 2012_P27_on Line Monitoring.pdf (709,3Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/16657
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2012
EditorIEEE
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
In the present paper we analyze that DC temperature
measurements of the silicon surface can be used to monitor the
high frequency status and performances of class A RF Power
Amplifiers. As a proof of concept, we present experimental results
obtained with a 65 nm CMOS IC that contains a 2GHz linear
class A Power Amplifier and a very simple differential
temperature sensor. Results show that the PA output power can
be tracked from DC temperature measurements.
CitacióAltet, J.; Mateo, D.; Gómez, D. On line monitoring of RF power amplifiers with embedded temperature sensors. A: IEEE International On-Line Testing Symposium. "2012 IEEE 18th International On-Line Testing Symposium (IOLTS), Sitges, Spain, June 27-29, 2012". Sitges, Barcelona: IEEE, 2012, p. 1-5.
ISBN978-1-4673-2084-9
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Altet_ IOLTS 2012_P27_on Line Monitoring.pdf | 709,3Kb | Accés restringit |