Analysis of delay mismatching of digital circuits caused by common environmental fluctuations
Visualitza/Obre
05938133.pdf (251,4Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/13699
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2011
EditorIEEE
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Environmental conditions are changing all the time along the chip as a consequence of its own activity, provoking deviations on propagation time in digital circuits. In future technologies, the increment of devices sensitivity to environmental
fluctuations yields to a wider range of possible time deviations, being for example, in an NOT gate designed in a 16nm technology
1.6 times larger than for a 45nm version. But this ratio is different for every circuit cause it depends on its fundamental
structure and characteristics. In this paper the tendency of timing parameters deviations due to environmental factors fluctuation
and how these deviations have deeper impact on more complex structures are analyzed. It is shown that the internal structure of the logic gates cause a mismatch between logic circuits and in future technologies it will be enlarged.
CitacióAndrade, D. [et al.]. Analysis of delay mismatching of digital circuits caused by common environmental fluctuations. A: IEEE International Symposium on Circuits and Systems. "2011 IEEE International Symposium on Circuits and Systems". Rio de Janeiro: IEEE, 2011, p. 2585-2588.
ISBN978-1-4244-9472-9
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5938133
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
05938133.pdf | 251,4Kb | Accés restringit |