Testing IC accelerometers using Lissajous compositions
Visualitza/Obre
article (273,6Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/13394
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2011
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
Micro Electro Mechanical devices (MEMs) have
widened their range of applications in a spectacular way in
the last years. Reliability of MEMs devices is one of the areas
that need to be improved to achieve high volume production
at allowable costs. Accelerometers have in their design some
mechanical and layout symmetries that can be used to improve
the test and diagnosis results. In our approach we take profit of
the symmetries of dual axis accelerometers to analyze and test
its behavior using a procedure that composes the two orthogonal
outputs when the accelerometer is spun. The complexity in
the kinematics seen by the sensitive axes of the accelerometer
yields rich and complex Lissajous traces that characterize the
device and allows to determine the possible mismatchings in the
assumed damped mass model parameters. In order to compare
and quantify parameter discrepancies, a metric has been defined
to allow to determine whether the DUT is within specifications
or not.
CitacióGómez, Á.; Balado, L.; Figueras, J. Testing IC accelerometers using Lissajous compositions. A: Perspective Technologies and Methods in MEMS Design. "2011 Proceedings of the VIIth International Conference in MEMS Design". Lviv-Polyana: 2011, p. 75-81.
ISBN978-966-2191-19-6
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.713]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
memstech2011.pdf | article | 273,6Kb | Accés restringit |