Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributor.authorRodríguez Montañés, Rosa
dc.contributor.authorArumi Delgado, Daniel
dc.contributor.authorManich Bou, Salvador
dc.contributor.authorFigueras Pàmies, Joan
dc.contributor.authorDi Carlo, Stefano
dc.contributor.authorPrinetto, Paolo
dc.contributor.authorScionti, Alberto
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics
dc.date.accessioned2011-03-21T13:55:57Z
dc.date.available2011-03-21T13:55:57Z
dc.date.created2010
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationRodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86.
dc.identifier.isbn978-1-4244-7784-5
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/11989
dc.format.extent6 p.
dc.language.isoeng
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Spain
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica
dc.subject.lcshElectronic engineering
dc.titleDefective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
dc.typeConference report
dc.subject.lemacNanotecnologia
dc.subject.lemacEnginyeria electrònica -- Congressos
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
dc.identifier.doi10.1109/VALID.2010.19
dc.description.peerreviewedPeer Reviewed
dc.relation.publisherversionhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198
dc.rights.accessRestricted access - publisher's policy
local.identifier.drac5377811
dc.description.versionPostprint (published version)
local.citation.authorRodríguez, R.; Arumi, D.; Manich, S.; Figueras, J.; Stefano Di Carlo; Paolo Prinetto; Scionti, A.
local.citation.contributorInternational Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle
local.citation.pubplaceNiça
local.citation.publicationNameSecond International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle
local.citation.startingPage81
local.citation.endingPage86


Fitxers d'aquest items

Imatge en miniatura

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple