Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects
Visualitza/Obre
05617198.pdf (680,6Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Cita com:
hdl:2117/11989
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2010
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióRodríguez, R. [et al.]. Defective Behaviour of an 8T SRAM Cell with Open Defects. A: International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle. "Second International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle". Niça: 2010, p. 81-86.
ISBN978-1-4244-7784-5
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5617198
Col·leccions
- Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics (fins octubre 2015) - Ponències/Comunicacions de congressos [36]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.714]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
05617198.pdf | 680,6Kb | Accés restringit |