Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis
Visualitza/Obre
text complet (563,8Kb) (Accés restringit)
Sol·licita una còpia a l'autor
Què és aquest botó?
Aquest botó permet demanar una còpia d'un document restringit a l'autor. Es mostra quan:
- Disposem del correu electrònic de l'autor
- El document té una mida inferior a 20 Mb
- Es tracta d'un document d'accés restringit per decisió de l'autor o d'un document d'accés restringit per política de l'editorial
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/11966
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació2010
EditorIEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Condicions d'accésAccés restringit per política de l'editorial
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
CitacióVatajelu, E. [et al.]. Parametric Failure Analysis of Embedded SRAMs using Fast & Accurate Dynamic Analysis. A: IEEE European Test Symposium. "15th IEEE European Test Symposium". Praga: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, p. 69-74.
Dipòsit legalCFP10216-USB
ISBN978-1-4244-5833-2
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5512778
Col·leccions
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades - Ponències/Comunicacions de congressos [60]
- QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat - Ponències/Comunicacions de congressos [78]
- Departament d'Enginyeria Electrònica - Ponències/Comunicacions de congressos [1.715]
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Vatajelu_05512778_ETS2010_Parametric.pdf | text complet | 563,8Kb | Accés restringit |