New Theoretical Analysis of the LRRM Calibration Technique for Vector Network Analyzers
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/1082
Tipus de documentArticle
Data publicació2001-10-31
EditorIEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
In this paper, a new theoretical analysis of the four-standards line-reflect-reflect-match (LRRM) vector network-analyzer (VNA) calibration technique is presented. As a result, it is shown that the reference-impedance (to which the LRRM calibration is referred) cannot generally be defined whenever nonideal standards are used. Based on this consideration, a new algorithm to determine the on-wafer match standard is proposed that improves the LRRM calibration accuracy. Experimental verification of the new theory and algorithm using on-wafer calibrations up to 40 GHz is given.
CitacióPurroy, F; Pradell, L. New theoretical analysis of the LRRM calibration technique for vector network analyzers. IEEE Transactions on instrumentation and measurement, 2001, vol.50, núm.5, p.1307-1314
ISSN0018-9456
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
New theoretical analysis00963202.pdf | 178,6Kb | Visualitza/Obre |