Analysis of dielectric-loaded cavities for characterization of the nonlinear properties of high temperature superconductors
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/1073
Tipus de documentArticle
Data publicació2003-06-30
EditorIEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
This work describes and compares two alternative methods of analyzing dielectric-loaded cavities for measurement of intermodulation distortion in HTS films. One of them is based on assuming a specific type of HTS nonlinearities and developing theoretical equations based on them. The second is based on a numerical approach that can be applied to many types of nonlinearities. Both methods are shown to work on measured data of representative HTS films.
CitacióCollado, C.; Mateu, J.; Menendez, O.; O'Callaghan, J. M. Analysis of dielectric-loaded cavities for characterization of the nonlinear properties of high temperature superconductors. IEEE Transactions on applied superconductivity, 2003, vol. 13, núm. 2, p. 332-335.
ISSN1051-8223
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
analysis dielectric-loaded01211609.pdf | 577,8Kb | Visualitza/Obre |