Mostra el registre d'ítem simple

dc.contributor.authorO'Callaghan Castellà, Juan Manuel
dc.contributor.authorMondal, J. P.
dc.contributor.otherUniversitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions
dc.date.accessioned2007-05-21T11:50:33Z
dc.date.available2007-05-21T11:50:33Z
dc.date.created1990
dc.date.issued1991-08-31
dc.identifier.citationO'Callaghan, J. M.; Mondal, J. P. A vector approach for noise parameter fitting and selection of source admittances. IEEE Transactions on microwave theory and techniques, 1991, vol. 39, núm. 8, p. 1376-1382.
dc.identifier.issn0018-9480
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2117/1015
dc.description.abstractSimple vector concepts can be used in the determination of noise parameters from measured data. The use of such concepts leads to a simplification in the least-square fitting algorithm, complete determination of the admittance loci that produce ill conditioning, and simple criteria for the selection of source admittances that minimize the sensitivity of the noise parameters to experimental error. The sensitivity of the noise parameters to small perturbations in the reflection coefficients is compared for a group of source admittances presented in previous work. The results show that a great reduction in the error of the noise parameters can be achieved by properly selecting the source admittances.
dc.format.extent1376-1382
dc.language.isoeng
dc.publisherIEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
dc.subjectÀrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació::Radiocomunicació i exploració electromagnètica::Circuits de microones, radiofreqüència i ones mil·limètriques
dc.subject.lcshElectric noise
dc.subject.lcshMicrowave measurements
dc.subject.otherelectric admittance
dc.subject.otherelectric noise measurement
dc.subject.othermeasurement errors
dc.titleA vector approach for noise parameter fitting and selection of source admittances
dc.typeArticle
dc.subject.lemacSoroll elèctric
dc.subject.lemacMesurament de microones
dc.contributor.groupUniversitat Politècnica de Catalunya. RF&MW - Grup de Recerca de sistemes, dispositius i materials de RF i microones
dc.description.peerreviewedPeer Reviewed
dc.rights.accessOpen Access
local.personalitzacitaciotrue


Fitxers d'aquest items

Thumbnail

Aquest ítem apareix a les col·leccions següents

Mostra el registre d'ítem simple