Comparison of on-wafer calibrations using the concept of reference impedance
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/101554
Tipus de documentText en actes de congrés
Data publicació1993
Editor. MICROWAVE EXHIBITORS AND PUBLISHERS
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
A novel method that allows to compare different calibration techniques has been developed. It is based on determining the reference impedance of a given Network Analyzer calibration from the reflection coefficient measurement of a physical open circuit. The method has been applied to several on-wafer calibrations.
CitacióPurroy, F., Pradell, L. Comparison of on-wafer calibrations using the concept of reference impedance. A: EUROPEAN MICROWAVE CONFERENCE, EUMC'93. "?". . MICROWAVE EXHIBITORS AND PUBLISHERS, 1993, p. 857-859.
ISBN0946821232
Versió de l'editorhttp://ieeexplore.ieee.org/document/4136790/
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
04136790.pdf | 2,755Mb | Visualitza/Obre |