Predicting instrumental mass fractionation (IMF) of stable isotope SIMS analyses by response surface methodology (RSM)
Visualitza/Obre
Cita com:
hdl:2117/100911
Tipus de documentArticle
Data publicació2017-02-10
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
Instrumental mass fractionation (IMF) of isotopic SIMS analyses (Cameca 1280HR, CRPG Nancy) was predicted by response surface methodology (RSM) for 18O/16O determinations of plagioclase, K-feldspar and quartz. The three predictive response surface models combined instrumental and compositional inputs. The instrumental parameters were: (i) X and Y position, (ii) LT1DefX and LT1DefY electrostatic deflectors, (iii) chamber pressure and, (iv) primary-ion beam intensity. The compositional inputs included: (i) anorthite content (An%) for the plagioclase model and, (ii) orthoclase (Or%) and barium (BaO%) contents for the K-feldspar model. The three models reached high predictive powers. The coefficients R2 and prediction-R2 were, respectively, 90.47% and 86.74% for plagioclase, 87.56% and 83.17% for K-feldspar and 94.29% and 91.59% for quartz. The results show that RSM can be confidently applied to IMF prediction in stable isotope SIMS analyses by the use of instrumental and compositional variables.
DatasetParcerisa Duocastella, D. [et al.]. (2017). Predicting instrumental mass fractionation (IMF) of stable isotope SIMS analyses by response surface methodology (RSM) [Dataset]. 1 v. Universitat Politècnica de Catalunya. https://doi.org/10.5821/data-2117-102417-1
http://hdl.handle.net/2117/102417
CitacióFàbrega, C., Parcerisa, D., Rossell, Josep M., Gurenko, A., Franke, C. Predicting instrumental mass fractionation (IMF) of stable isotope SIMS analyses by response surface methodology (RSM). "Journal of analytical atomic spectrometry", 10 Febrer 2017.
ISSN0267-9477
Col·leccions
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
c6ja00397d.pdf | Manuscrit acceptat, inclou imatges | 2,727Mb | Visualitza/Obre |