Caracterización y control de los efectos de la carga parásita en dispositivos MEMS
Tipus de documentProjecte/Treball Final de Carrera
Data2009-07-15
Condicions d'accésAccés obert
Llevat que s'hi indiqui el contrari, els
continguts d'aquesta obra estan subjectes a la llicència de Creative Commons
:
Reconeixement-NoComercial-SenseObraDerivada 3.0 Espanya
Abstract
Estudio y caracterización del efecto de la acumulación de carga en dispositivos MEMS mediante un modelo equivalente y la realización de medidas experimentales, todo ello con el objetivo de mantener el nivel de carga en el sistema alrededor de un determinado umbral.
TitulacióENGINYERIA DE TELECOMUNICACIÓ (Pla 1992)
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
Caracterizacion ... sitaEnDispositivosMEMS.pdf | 3,913Mb | Visualitza/Obre |