Aplicaciones de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) cómo método de caracterización de polímeros

Díaz Marcos, Jordi

dc.contributor	Segarra Rubí, Mercè
dc.contributor.author	Díaz Marcos, Jordi
dc.contributor.other	Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Ciència dels Materials i Enginyeria Metal·lúrgica
dc.date.accessioned	2007-03-09T11:18:38Z
dc.date.available	2007-03-09T11:18:38Z
dc.date.issued	2004
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2099.1/3209
dc.description	Este proyecto pretende ser una herramienta útil para el ingeniero que quiera aplicar la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) como técnica de caracterización de Materiales poliméricos. En primer lugar se describen algunas técnicas de caracterización superficial competitivas con el AFM, es decir el SEM y el TEM (Microscopía Electrónica) para describir seguidamente el AFM. El AFM, es una técnica que poco a poco va ganándose adeptos como herramienta útil de caracterización a nivel de topografía, dureza, adhesión, medidas in situ, etc. En el capítulo 3 se describirá la técnica, los diferentes modos y posibilidades que presenta y su uso más concreto dentro del campo de los polímeros (por ejemplo, se describe como preparar una muestra polimérica para su posterior caracterización por AFM). Para concluir este capítulo se introducirá el tema de los Biopolímeros y como el AFM puede ser una herramienta útil para caracterizarlos. Por último, en el capítulo 4 se describen algunos ejemplos para que el Ingeniero pueda ver casos prácticos donde el AFM puede ser una herramienta importante de caracterización y que además, permite solucionar problemas que aparecen en otras técnicas más comúnmente utilizadas, como por ejemplo, la microscopía óptica y electrónica. Por lo tanto, esta técnica puede ser una herramienta útil en caracterización de polímeros de interés tecnológico como el poliéster PEN (substrato en células fotovoltaicas), poliéster del ácido málico (biopolímero) o polímeros clásicos como el polipropileno (embalaje) o en estudios de adhesión matriz-polímero (Si-PEN), entre otros.
dc.language.iso	spa
dc.publisher	Universitat Politècnica de Catalunya
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials::Assaigs estructurals
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Assaig de materials
dc.subject	Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria dels materials::Materials plàstics i polímers
dc.title	Aplicaciones de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) cómo método de caracterización de polímeros
dc.type	Master thesis (pre-Bologna period)
dc.rights.access	Open Access
dc.audience.educationlevel	Estudis de primer/segon cicle
dc.audience.mediator	Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona
dc.audience.degree	ENGINYERIA DE MATERIALS (TITULACIÓ CONJUNTA AMB LA UB) (Pla 2003)