| Títol: | Vulnerabilidad del diámetro de ciertas familias de grafos |
| Autor: | Simó Mezquita, Ester |
| Altres autors/autores: | Andrés Yebra, José Luis; Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Matemàtica Aplicada i Telemàtica |
| Editorial: | Universitat Politècnica de Catalunya |
| Matèries: | redes de interconexión
fiabilidad
grafos.
621.3 - Enginyeria elèctrica. Electrotècnia. Telecomunicacions |
| Tipus de document: | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
| Descripció: | En este trabajo hemos realizado un estudio completo sobre la vulnerabilidad del diámetro de dos familias de grafos:Los grafos impares y los n-cubo plegados. En el caso de los grafos impares, hemos probado que la eliminación de cualquier conjunto de vértices o ramas de cardinalidad k menor que el grado incrementa el diámetro de los subgrafos resultantes a lo sumo en dos unidades.Asimismo, hemos estudiado como varían los parámetros d'k y d'k' cuando eliminamos k vértices o ramas del grafo.Análogamente, para los grafos cubo plegado hemos estudiado como varían estos parámetros cuando eliminamos k vértices o ramas del grafo, para valores de k inferiores al grado del grafo. Por los resultados obtenidos podemos afirmar que ambas familias de grafos son adecuadas para la implementación de redes de interconexión tolerantes a fallos.Otro estudio que hemos realizado en esta tesis trata sobre el diseño de redes densas fiables. Y hemos obtenido cuatro grafos (A,D,D,1) que mejoran cinco cotas presentadas en la tabla de grandes grafos (A,D,D,1). |
| Altres identificadors i accés: | http://hdl.handle.net/10803/6727
urn:isbn:9788469256282 |
| Disponible al dipòsit: | Tesis doctorals - TDX
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| Comparteix: |
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