Numerical optimization of hybrid dielectric/HTS resonators for surface impedance evaluation of HTS films
Visualitza/Obre
Estadístiques de LA Referencia / Recolecta
Inclou dades d'ús des de 2022
Cita com:
hdl:2117/998
Tipus de documentArticle
Data publicació1999-06-30
EditorIEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Condicions d'accésAccés obert
Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i
industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva
reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets
Abstract
This work describes an alternative to the traditional dielectric resonator topology used for measuring surface impedance in High Temperature Superconducting (HTS) films. A gap is introduced above the dielectric so that only the lower film is in direct contact with it. This arrangement has been used extensively for mechanical tuning of dielectric resonators and, when used for surface impedance measurement, it can be designed to make the losses in the upper film small relative to the overall resonator losses. Then, measured results are mostly due to one of the films and not the average of two. The specifics of a resonator design for measuring 2-inch wafers are presented. An analysis and optimization of the resonator is done using a numerically efficient mode-matching algorithm.
CitacióCollado, C; Gonzalo, D; Rozan, E.; O'Callaghan, J.M. Numerical optimization of hybrid dielectric/HTS resonators for surface impedance evaluation of HTS films. IEEE Transactions on applied superconductivity, 1999, vol. 9, núm. 2, p. 1956-1959
ISSN1051-8223
Fitxers | Descripció | Mida | Format | Visualitza |
---|---|---|---|---|
numerical optimization 00784844.pdf | 391,1Kb | Visualitza/Obre |