|
E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/992
|
| Citació: | O'Callaghan, J.; Sans, C; Collado, C; Canet, E; Pous, R; Fontcuberta, J. Accuracy considerations in microstrip surface impedance measurements. IEEE Transactions on applied superconductivity, 1997, vol. 7, núm 2, p. 1869-1872. |
| Títol: | Accuracy considerations in microstrip surface impedance measurements |
| Autor: | O'Callaghan Castellà, Juan Manuel  ; Sans, C.; Collado Gómez, Juan Carlos ; Canet Grau, Eduard; Pous Andrés, Rafael ; Fontcuberta, Josep |
| Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| Data: | 1996 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | An approach is proposed for the design, measurement and data extraction of superconducting microstrip resonators used in determination of surface resistance and penetration depth. Major sources of error are analyzed and procedures to minimize them are given |
| ISSN: | 1051-8223 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/992 |
| Apareix a les col·leccions: | Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|
Català
Castellano
English
