DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/991

Arxiu Descripció MidaFormat
mechanisms for conduction.pdf409.11 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Nguyen, T.; O'Callaghan, J. M.; Davidson, B. A.; Redwing, R. D.; Hohenwarter, G. K. G.; Nordman, J. E.; Beyer, J. B.; Mechanisms for conduction via low-frequency noise measurements of high-Tc/sub c/thin film microbridges. IEEE Transactions on applied superconductivity, 1995, vol. 5, núm. 2, p. 3369-3372.
Títol: Mechanisms for conduction via low-frequency noise measurements of High-Tc Thin-film microbridges
Autor: Nguyen, T. D.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel Veure Producció científica UPC; Davidson, B. A.; Redwing, R. D.; Hohenwarter, G. K. G.; Nordman, J. E.; Beyer, J. B.
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Data: 1994
Tipus de document: Article
Resum: We have investigated possible mechanisms for conduction in high-T/sub c/ thin-film microbridges biased into the voltage state via the low-frequency noise properties. Measurements on thinned YBCO microbridges indicate that the voltage noise power spectral density S/sub V/(f) is proportional to the DC voltage.
ISSN: 1051-8223
URI: http://hdl.handle.net/2117/991
Apareix a les col·leccions:RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius