|
E-prints UPC >
Enginyeria electrònica i telecomunicacions >
RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones >
Articles de revista >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/991
|
| Citació: | Nguyen, T.; O'Callaghan, J. M.; Davidson, B. A.; Redwing, R. D.; Hohenwarter, G. K. G.; Nordman, J. E.; Beyer, J. B.; Mechanisms for conduction via low-frequency noise measurements of high-Tc/sub c/thin film microbridges. IEEE Transactions on applied superconductivity, 1995, vol. 5, núm. 2, p. 3369-3372. |
| Títol: | Mechanisms for conduction via low-frequency noise measurements of High-Tc Thin-film microbridges |
| Autor: | Nguyen, T. D.; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel ; Davidson, B. A.; Redwing, R. D.; Hohenwarter, G. K. G.; Nordman, J. E.; Beyer, J. B. |
| Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| Data: | 1994 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | We have investigated possible mechanisms for conduction in high-T/sub c/ thin-film microbridges biased into the voltage state via the low-frequency noise properties. Measurements on thinned YBCO microbridges indicate that the voltage noise power spectral density S/sub V/(f) is proportional to the DC voltage. |
| ISSN: | 1051-8223 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/991 |
| Apareix a les col·leccions: | Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions. Articles de revista RF&MW - Grup de Recerca de Sistemes, Dispositius i Materials de RF i Microones. Articles de revista
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|