DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/9865

Arxiu Descripció MidaFormat
fringe_poster_sesion.pdf74,22 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Fernandez, R.; Gil, I. An alternative characterization method of PFET sub-threshold slope under NBTI stress. A: European Solid State Device Research Conference. "ESSDERC". Sevilla: 2010.
Títol: An alternative characterization method of PFET sub-threshold slope under NBTI stress
Autor: Fernández García, Raúl Veure Producció científica UPC; Gil Galí, Ignacio Veure Producció científica UPC
Data: 2010
Tipus de document: Conference lecture
Resum: The effects of negative bias temperature instability (NBTI) on the sub-threshold performance of a pFET have been investigated by means of experimental methods. Specifically, the sub-threshold slope under static and dynamic NBTI stress has been characterized for different NBTI stress conditions. In order to perform the characterization, a proposal based on an alternative measurement technique to obtain the sub-threshold slope is presented. Our first results indicate that similar sub-threshold slope is obtained in all stress conditions.
URI: http://hdl.handle.net/2117/9865
Apareix a les col·leccions:TIEG - Grup d'Electrònica Industrial Terrassa. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius