|
E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >
Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem:
http://hdl.handle.net/2117/9453
|
| Citació: | Aragones, X. [et al.]. Noise generation and coupling mechanisms in deep-submicron IC's. "IEEE design and test of computers", Setembre 2002, vol. 19, núm. 5, p. 27-35. |
| Títol: | Noise generation and coupling mechanisms in deep-submicron IC's |
| Autor: | Aragonès Cervera, Xavier ; González Jiménez, José Luis ; Moll Echeto, Francisco de Borja ; Rubio Sola, Jose Antonio  |
| Data: | set-2002 |
| Tipus de document: | Article |
| Resum: | On-chip noise generation and coupling is an
important issue in deep-submicron technologies.
Advanced IC technology faces new challenges to
ensure function and performance integrity.
Selecting adequate test techniques depends on
the circuit, its implementation, and the possible
physical failures and parasitic coupling models.
This new demand for test technology practices
precipitated the investigation of dI/dt and dV/dt
noise generation and propagation mechanisms. |
| ISSN: | 0740-7475 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2117/9453 |
| Versió de l'editor: | 10.1109/MDT.2002.1033789 |
| Versió de l'editor: | http://ieeexplore.ieee.org/search/srchabstract.jsp?arnumber=1033789&isnumber=22200&punumber=54&k2dockey=1033789@ieeejrns&query=%28%28noise+generation+and+coupling+%29%3Cin%3Emetadata%29&pos=4&access=no |
| Apareix a les col·leccions: | Altres. Enviament des de DRAC Departament d'Enginyeria Electrònica. Articles de revista HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Articles de revista
|
| Comparteix: |
|
Queda prohibida la reproducció, transformació, distribució i comunicació pública d'aquesta obra. Es permet, en tot cas, la reproducció per a ús privat sempre i quan la còpia que se'n faci no sigui objecte d'utilització col·lectiva ni lucrativa (art. 31.2 del Reial Decret Legislatiu 1/1996, de 12 d'abril, pel qual s'aprova el Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual, http://bibliotecnica.upc.es/sepi/legislacio.asp).
Per a qualsevol ús que es vulgui fer diferent al permès, dirigiu-vos a: sepi@upc.edu
|