DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/8325

Arxiu Descripció MidaFormat
AldreteVidrioEduardo.pdf1,4 MBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Aldrete, E. [et al.]. Strategies for built-in characterization testing and performance monitoring of analog RF circuits with temperature measurements. "Measurement science and technology", 08 Juny 2010, vol. 21, núm. 7, p. 1-10.
Títol: Strategies for built-in characterization testing and performance monitoring of analog RF circuits with temperature measurements
Autor: Aldrete Vidrio, Eduardo; Mateo Peña, Diego Veure Producció científica UPC; Altet Sanahujes, Josep Veure Producció científica UPC; Amine Salhi, M.; Grauby, Stéphane; Dilhaire, Stefan; Onabajo, M.; Silva-Martínez, José
Data: 8-jun-2010
Tipus de document: Article
Resum: This paper presents two approaches to characterize RF circuits with built-in differential temperature measurements, namely the homodyne and heterodyne methods. Both non-invasive methods are analyzed theoretically and discussed with regard to the respective trade-offs associated with practical off-chip methodologies as well as on-chip measurement scenarios. Strategies are defined to extract the center frequency and 1 dB compression point of a narrow-band LNA operating around 1 GHz. The proposed techniques are experimentally demonstrated using a compact and efficient on-chip temperature sensor for built-in test purposes that has a power consumption of 15 μW and a layout area of 0.005 mm2 in a 0.25 μm CMOS technology. Validating results from off-chip interferometer-based temperature measurements and conventional electrical characterization results are compared with the on-chip measurements, showing the capability of the techniques to estimate the center frequency and 1 dB compression point of the LNA with errors of approximately 6% and 0.5 dB, respectively.
ISSN: 0957-0233
URI: http://hdl.handle.net/2117/8325
DOI: 10.1088/0957-0233/21/7/075104
Versió de l'editor: http://iopscience.iop.org/0957-0233/21/7/075104/pdf/0957-0233_21_7_075104.pdf
Apareix a les col·leccions:HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems. Articles de revista
Departament d'Enginyeria Electrònica. Articles de revista
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius