DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/7733

Arxiu Descripció MidaFormat
getPDF.pdfArticle principal635,3 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Rodríguez, R. [et al.]. Diagnosis of full open defects in interconnecting lines. A: IEEE VLSI Test Symposium. "25th IEEE VLSI Test Symposium". Berkeley: IEEE, 2007, p. 1-6.
Títol: Diagnosis of full open defects in interconnecting lines
Autor: Rodríguez Montañés, Rosa Veure Producció científica UPC; Arumi Delgado, Daniel Veure Producció científica UPC; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC; Eichenberger, Stefan; Hora, Camelia; Kruseman, Bram; Lousberg, M.; Majhi, A.K.
Editorial: IEEE
Data: 31-mai-2007
Tipus de document: Conference report
Resum: A proposal for enhancing the diagnosis of full open defects in interconnecting lines of CMOS circuits is presented. The defective line is first classified as fully opened by means of a logic-based diagnosis tool (Faloc). The proposal is based on the division of the defective line into a number of segments. The selected group of segments is derived from the topology of the line and its surrounding circuitry. The logical information related to the neighbouring metal lines for each considered test pattern is taken into account. With the proposed diagnosis methodology, a set of likely locations for the open defect on the line is obtained. A ranking between the set of possible locations is presented based on the analysis of the quiescent current consumption of the circuit under test. Examples are presented in which the use of the diagnosis methodology is shown to discriminate between different locations of the full open defect.
Descripció: Best Paper Award al millor article del congrés IEEE VLSI Test Symposium 2007
ISBN: 0-7695-2812-0
URI: http://hdl.handle.net/2117/7733
Apareix a les col·leccions:QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Ponències/Comunicacions de congressos
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius