DSpace DSpace UPC
 Català   Castellano   English  

E-prints UPC >
Altres >
Enviament des de DRAC >

Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://hdl.handle.net/2117/7732

Arxiu Descripció MidaFormat
ets10_15_2.pdfArticle principal255,42 kBAdobe PDFThumbnail
Veure/Obrir

Citació: Arumi, D. [et al.]. Diagnosis of full open defects in interconnect lines with fan-out. A: EEE European Test Symposium. "15th European Test Symposium". Praga: IEEE, 2010, p. 233-238.
Títol: Diagnosis of full open defects in interconnect lines with fan-out
Autor: Arumi Delgado, Daniel Veure Producció científica UPC; Rodríguez Montañés, Rosa Veure Producció científica UPC; Figueras Pàmies, Joan Veure Producció científica UPC; Eichenberger, Stefan; Hora, C.; Kruseman, Bram
Editorial: IEEE Press. Institute of Electrical and Electronics Engineers
Data: 24-mai-2010
Tipus de document: Conference report
Resum: The development of accurate diagnosis methodologies is important to solve process problems and achieve fast yield improvement. As open defects are common in CMOS technologies, accurate diagnosis of open defects becomes a key factor. Widely used interconnect full open diagnosis procedures are based on the assumption that neighbouring lines determine the voltage of the defective line. However, this assumption decreases the diagnosis efficiency for opens in interconnect lines with fan-out, when the influence of transistor capacitances becomes important. This work presents a diagnosis methodology for interconnect full open defects where the impact of transistor parasitic capacitances is included. The methodology is able to properly diagnose interconnect opens with fan-out even in the presence of Byzantine behaviour. Diagnosis results for real defective devices from different technology nodes are presented.
ISBN: 978-1-4244-5833-2
Dipòsit legal: CFP10216-USB
URI: http://hdl.handle.net/2117/7732
Apareix a les col·leccions:QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Tolerància a Fallades. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament d'Enginyeria Electrònica. Ponències/Comunicacions de congressos
Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics. Ponències/Comunicacions de congressos
Altres. Enviament des de DRAC
Comparteix:


Stats Mostra les estadístiques d'aquest ítem

SFX Query

Tots els drets reservats. Aquesta obra està protegida pels drets de propietat intel·lectual i industrial corresponents. Sense perjudici de les exempcions legals existents, queda prohibida la seva reproducció, distribució, comunicació pública o transformació sense l'autorització del titular dels drets.

Per a qualsevol ús que se'n vulgui fer no previst a la llei, dirigiu-vos a: sepi.bupc@upc.edu

 

Valid XHTML 1.0! Programari DSpace Copyright © 2002-2004 MIT and Hewlett-Packard Comentaris
Universitat Politècnica de Catalunya. Servei de Biblioteques, Publicacions i Arxius